Programming of a Floating Gate EEPROM Device
Application ID: 18075
This model calculates the current and charge characteristics of a floating gate Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory (EEPROM) device. A stationary study demonstrates the effects of varying the charge stored on the floating gate by computing Current-Voltage curves as a function of the control gate voltage for two different amounts of stored charge. Time dependent studies are then used to simulate transient voltage pulses on the control gate. These pulses cause current to tunnel between the floating gate and the semiconductor material, allowing the EEPROM device to be both programmed and erased.
Dieses Beispiel veranschaulicht Anwendungen diesen Typs, die mit den folgenden Produkten erstellt wurden:
Allerdings können zusätzliche Produkte erforderlich sein, um es vollständig zu definieren und zu modellieren. Weiterhin kann dieses Beispiel auch mit Komponenten aus den folgenden Produktkombinationen definiert und modelliert werden:
Die Kombination von COMSOL® Produkten, die für die Modellierung Ihrer Anwendung erforderlich ist, hängt von verschiedenen Faktoren ab und kann Randbedingungen, Materialeigenschaften, Physik-Interfaces und Bauteilbibliotheken umfassen. Bestimmte Funktionen können von mehreren Produkten gemeinsam genutzt werden. Um die richtige Produktkombination für Ihre Modellierungsanforderungen zu ermitteln, lesen Sie die Spezifikationstabelle und nutzen Sie eine kostenlose Evaluierungslizenz. Die COMSOL Vertriebs- und Support-Teams stehen Ihnen für alle Fragen zur Verfügung, die Sie diesbezüglich haben.