Heterojunction 1D
Application ID: 14617
This benchmark model simulates three different heterojunction configurations under forward and reverse bias. It shows the difference in using the continuous quasi-Fermi level formulation versus the thermionic emission formulation for the charge transfer across the heterojunction. The simulated energy levels are compared between each configuration in order to illustrate the origin of the charge transfer, that is, whether it is primarily from holes in the valence band or from electrons in the conduction band. The computed I-V curves for each configuration are compared with results from the literature. Several methods for better convergence are demonstrated in the setup of the various study steps.
Dieses Beispiel veranschaulicht Anwendungen diesen Typs, die mit den folgenden Produkten erstellt wurden:
Allerdings können zusätzliche Produkte erforderlich sein, um es vollständig zu definieren und zu modellieren. Weiterhin kann dieses Beispiel auch mit Komponenten aus den folgenden Produktkombinationen definiert und modelliert werden:
Die Kombination von COMSOL® Produkten, die für die Modellierung Ihrer Anwendung erforderlich ist, hängt von verschiedenen Faktoren ab und kann Randbedingungen, Materialeigenschaften, Physik-Interfaces und Bauteilbibliotheken umfassen. Bestimmte Funktionen können von mehreren Produkten gemeinsam genutzt werden. Um die richtige Produktkombination für Ihre Modellierungsanforderungen zu ermitteln, lesen Sie die Spezifikationstabelle und nutzen Sie eine kostenlose Evaluierungslizenz. Die COMSOL Vertriebs- und Support-Teams stehen Ihnen für alle Fragen zur Verfügung, die Sie diesbezüglich haben.