Stress analysis of an IGBT module under the Highly Accelerated Stress Test (HAST) condition
Application ID: 124191
The Highly Accelerated Stress Test (HAST) is a testing technique to precipitate failure of electronic devices under elevated temperature and high humidity environment. This model demonstrates the structural analysis of a plastic encapsulated IGBT module under the HAST testing condition. The thermal stress and the hygroscopic swelling, as well as the moisture transport are investigated.
The test condition is based on the Standard JESD22-A110
Dieses Beispiel veranschaulicht Anwendungen diesen Typs, die mit den folgenden Produkten erstellt wurden:
Allerdings können zusätzliche Produkte erforderlich sein, um es vollständig zu definieren und zu modellieren. Weiterhin kann dieses Beispiel auch mit Komponenten aus den folgenden Produktkombinationen definiert und modelliert werden:
Die Kombination von COMSOL® Produkten, die für die Modellierung Ihrer Anwendung erforderlich ist, hängt von verschiedenen Faktoren ab und kann Randbedingungen, Materialeigenschaften, Physik-Interfaces und Bauteilbibliotheken umfassen. Bestimmte Funktionen können von mehreren Produkten gemeinsam genutzt werden. Um die richtige Produktkombination für Ihre Modellierungsanforderungen zu ermitteln, lesen Sie die Spezifikationstabelle und nutzen Sie eine kostenlose Evaluierungslizenz. Die COMSOL Vertriebs- und Support-Teams stehen Ihnen für alle Fragen zur Verfügung, die Sie diesbezüglich haben.