Molecular Flow in an Ion-Implant Vacuum System
Application ID: 10011
Ion implantation is used extensively in the semiconductor industry to implant dopants into wafers. Within an ion implanter, ions generated within an ion source are accelerated by an electric field to achieve the desired implant energy. Ions of the correct charge state are selected by means of a separation magnet, which bends the ion beam to ensure that ions of a particular charge-to-mass ratio are the only ones that reach the wafer. The energy dose and angle of the ion beam are both key parameters for the process.
This example shows how to model an ion implantation system using the Molecular Flow interface.
Dieses Beispiel veranschaulicht Anwendungen diesen Typs, die mit den folgenden Produkten erstellt wurden:
Allerdings können zusätzliche Produkte erforderlich sein, um es vollständig zu definieren und zu modellieren. Weiterhin kann dieses Beispiel auch mit Komponenten aus den folgenden Produktkombinationen definiert und modelliert werden:
Die Kombination von COMSOL® Produkten, die für die Modellierung Ihrer Anwendung erforderlich ist, hängt von verschiedenen Faktoren ab und kann Randbedingungen, Materialeigenschaften, Physik-Interfaces und Bauteilbibliotheken umfassen. Bestimmte Funktionen können von mehreren Produkten gemeinsam genutzt werden. Um die richtige Produktkombination für Ihre Modellierungsanforderungen zu ermitteln, lesen Sie die Spezifikationstabelle und nutzen Sie eine kostenlose Evaluierungslizenz. Die COMSOL Vertriebs- und Support-Teams stehen Ihnen für alle Fragen zur Verfügung, die Sie diesbezüglich haben.